問答題簡(jiǎn)述差熱分析的原理和裝置示意圖。
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最新試題
1887年，Hertz建立了XPS技術(shù)的理論模型。
題型：判斷題
電子探針的能譜儀和波譜儀比較，波譜儀（）。
題型：多項(xiàng)選擇題
晶體的X射線衍射方向反映了晶胞的（）。
題型：多項(xiàng)選擇題
掃描隧道顯微鏡能用于觀察導(dǎo)體、半導(dǎo)體和絕緣體材料的表面結(jié)構(gòu)。
題型：判斷題
電子探針和X射線衍射儀一樣，都可以直接確定材料中所包含的物相。
題型：判斷題
在熱分析技術(shù)中，利用程序溫控裝置，可以升溫、降溫，但不能測(cè)定材料在恒溫過程中發(fā)生的變化。
題型：判斷題
在電子探針中，測(cè)定X射線特征能量的譜儀為能量分散譜儀，簡(jiǎn)寫為（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
熱分析技術(shù)中，試樣用量越多，熱效應(yīng)大，內(nèi)部傳熱慢，溫度梯度大，導(dǎo)致峰形擴(kuò)大，峰頂溫度滯后，容易使相鄰峰重疊，降低分辨率。
題型：判斷題
熱分析中對(duì)樣品的重量沒有要求，只要樣品尺寸能放進(jìn)坩堝內(nèi)，就可以獲得良好的測(cè)試結(jié)果。
題型：判斷題
關(guān)于stokes線和anti-Stokes線，說法正確的是（）。
題型：多項(xiàng)選擇題