A.隨作用物質(zhì)的原子序數(shù)增加而增加
B.隨作用物質(zhì)的原子序數(shù)增加而降低
C.隨作用物質(zhì)的原子序數(shù)減低而增加
D.隨輻射線的強(qiáng)度降低而增加
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A.10KeV-500KeV
B.100KeV-10Mev
C.1.02MeV以上
D.10KeV以下
A.10KeV-500KeV
B.100KeV-10MeV
C.1.02Mev
D.10KeV以上
A.使受測(cè)試件發(fā)射電子
B.射線受散射影響底片品質(zhì)
C.增加安全顧慮
D.以上都是
A.hv小于εj
B.hv大于εj
C.hv遠(yuǎn)大于εj
D.hv大于1.02Mev
A.能量為0.2MeV的單能射線
B.能量高于0.2MeV的所有射線成分
C.最大能量為0.2MeV的白色X射線束
D.平均能量為0.2MeV的X射線
最新試題
底片的最佳黑度值與觀片燈的亮度有關(guān),觀片燈亮度改變,最佳黑度值也將改變。
使用變型波檢測(cè)的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是()
下列對(duì)耦合劑應(yīng)該具有的特點(diǎn)的描述,不正確的一項(xiàng)是()
對(duì)軸類鋼制鍛件,用2.5P14的直探頭,在圓周面上用底波作基準(zhǔn)反射而進(jìn)行靈敏度調(diào)整時(shí),該軸鍛件的直徑至少應(yīng)大于()
不同材料的相對(duì)吸收系數(shù)()
調(diào)節(jié)掃描速度時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的水平刻度值。
對(duì)于鉬靶X射線管,在管電壓低于()千伏時(shí)是不會(huì)產(chǎn)生特征X射線的。
底片清晰度與膠片顆粒度的關(guān)系是()
發(fā)生康普頓散射的條件是()
一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線,穿過一個(gè)厚度為X的物質(zhì),其強(qiáng)度降低量為I,可用I=-μI0X表示,μ為比例常數(shù),此式代表什么現(xiàn)象()