問答題簡述電子透鏡相差缺陷及其處理方法
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最新試題
晶體的X射線衍射方向反映了晶胞的（）。
題型：多項(xiàng)選擇題
粉末多晶樣品中，不同晶面指數(shù)的倒易點(diǎn)分布在（）半徑的倒易球上。
題型：單項(xiàng)選擇題
根據(jù)衍襯運(yùn)動(dòng)學(xué)原理，理想晶體衍射強(qiáng)度隨（）而變化。
題型：多項(xiàng)選擇題
每種晶體物質(zhì)都有自己特定的晶體結(jié)構(gòu)，晶體結(jié)構(gòu)不同則X射線衍射花樣也就各不相同。
題型：判斷題
透射電鏡的成像操作和電子衍射操作是通過調(diào)節(jié)（）的位置來實(shí)現(xiàn)的。
題型：單項(xiàng)選擇題
利用電子探針的波譜儀，一個(gè)分光晶體能夠覆蓋的波長范圍有限的，因此一個(gè)分光晶體只能檢測一定原子序數(shù)范圍的元素。
題型：判斷題
拉曼光譜分析時(shí)，1500cm-1以上的譜帶必定是一個(gè)基團(tuán)的頻率，解釋通常是可靠的，一般可以確信其推論。
題型：判斷題
被樣品原子核反彈回來的入射電子稱為非彈性背散射電子，能量基本上沒有損失。
題型：判斷題
1887年，Hertz建立了XPS技術(shù)的理論模型。
題型：判斷題
在電子探針面分析中，根據(jù)圖像上亮點(diǎn)的疏密和分布，可確定該元素在試樣中分布情況，亮區(qū)代表元素含量（）。
題型：單項(xiàng)選擇題