單項(xiàng)選擇題超聲波檢驗(yàn)中,當(dāng)探傷面比較粗糙時(shí),宜選用()
A.較低頻率探頭
B.較粘的耦合劑
C.軟保護(hù)膜探頭
D.以上都是
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
1.單項(xiàng)選擇題鍛件中粗大晶粒通常會(huì)引起()
A.底反射降低或消失
B.較高的“雜波”或噪聲顯示
C.穿透力降低
D.以上都是
2.單項(xiàng)選擇題在檢驗(yàn)工件時(shí)若無(wú)缺陷顯示,則操作者應(yīng)注意底面回波,若底面回波的高度劇烈下降,引起這種情況的原因可能是()
A.大而平的缺陷與入射聲束取向不良
B.疏松
C.晶粒粗大
D.以上都是
3.單項(xiàng)選擇題在接觸法超聲波縱波垂直入射探傷中,出現(xiàn)底波幅度降低甚至消失的原因可能是()
A.耦合不良
B.存在與聲束不垂直的缺陷
C.存在被始波遮蔽的近表面缺陷
D.以上都是
5.單項(xiàng)選擇題在一定的檢測(cè)靈敏度下,缺陷回波幅度高低取決于()
A.缺陷尺寸
B.缺陷方位
C.缺陷類(lèi)型
D.以上都是
最新試題
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
調(diào)節(jié)時(shí)基線(xiàn)時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
()是影響缺陷定量的因素。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來(lái)確定。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題