單項選擇題使用儀器一斜探頭系統(tǒng),檢測前應(yīng)測定()
A.前沿距離
B.K值
C.主聲束偏離、靈敏度余量和分辨率等
D.以上都是
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1.單項選擇題JB/T4730.3-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:每隔()至少對儀器的水平線性和垂直線性進(jìn)行一次測定。
A.每周
B.每個月
C.三個月
D.半年
2.單項選擇題JB/T4730.3-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:探頭的掃查速度不應(yīng)超過(),當(dāng)采用自動報警裝置時,不受此限。
A.100mm/s
B.150mm/s
C.200mm/s
D.50mm/s
3.單項選擇題JB/T4730.3-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:探頭每次掃查覆蓋率應(yīng)大于探頭直徑的()
A.5%
B.10%
C.15%
D.20%
4.單項選擇題JB/T4730.3-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:儀器和探頭的組合頻率與公稱頻率誤差不得大于()
A.±5%
B.±10%
C.±15%
D.±20%
5.單項選擇題JB/T4730.3-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:晶片面積一般不大于(),且任一邊長原則上不大于25mm。
A.250mm2
B.400mm2
C.500mm2
D.625mm2
最新試題
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的()。
題型:單項選擇題
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時,需要進(jìn)行傳輸修正。
題型:單項選擇題
超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度余量()。
題型:單項選擇題
()可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
題型:單項選擇題
儀器水平線性影響()。
題型:單項選擇題
()可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。
題型:單項選擇題
超聲檢測儀盲區(qū)是指()。
題型:單項選擇題
移動探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動探頭,缺陷回波高度降低一半時,探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點,兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。
題型:單項選擇題
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小,操作方便,適用于()的工件。
題型:單項選擇題
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低,()。
題型:單項選擇題