A.JB3963-85
B.JB4730-2005
C.GB/T6402-91
D.以上都是
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.接觸
B.水浸
C.反射
D.以上都是
A.清楚表面松的氧化皮
B.去除所有的氧化皮
C.表面粗加工(上車床)
D.用堿腐蝕其表面
A.軸向檢測(cè)
B.徑向檢測(cè)
C.A和B兩者
D.低頻率和高頻率都用
A.金屬材料制承壓設(shè)備用原材料、零部件
B.焊接接頭
C.金屬材料制在用承壓設(shè)備
D.以上都是
A.不分
B.3個(gè)
C.2個(gè)
D.4個(gè)
最新試題
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。
單探頭法容易檢出()。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為()。
用橫波斜探頭檢測(cè),找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指()。