A.始波
B.界面回波
C.底面反射回波
D.缺陷反射回波
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A.選擇與待檢工件尺寸相同或相近的試塊
B.將探頭對(duì)準(zhǔn)試塊上的人工反射體,調(diào)節(jié)儀器使示波屏上人工缺陷的最高反射波達(dá)到基準(zhǔn)波高
C.計(jì)算出人工反射體與所要求的靈敏度之間的回波分貝差Δ(dB)
D.將儀器靈敏度增益Δ(dB),并根據(jù)工件和試塊的材質(zhì)給予一定補(bǔ)償
A.評(píng)定靈敏度
B.檢測靈敏度
C.掃查靈敏度
D.定量靈敏度
A.顯示屏上雜波多
B.干擾對(duì)缺陷的定量
C.干擾缺陷波的判別
D.容易引起漏檢
A.定位
B.長度測量
C.高度測量
D.定量
A.評(píng)定靈敏度
B.檢測靈敏度
C.掃查靈敏度
D.定量靈敏度
最新試題
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
()可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
縱波直探頭徑向檢測實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的()。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
()是影響缺陷定量的因素。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
()可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長距離檢測。
()可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。