A.探頭靈敏度不夠
B.儀器水平線性的偏差
C.儀器垂直線性的偏差
D.耦合劑使用不當(dāng)
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A.頻率范圍、掃描深度、放大倍數(shù)。
B.頻率范圍、放大倍數(shù)、分辨率。
C.垂直線性、水平線性、分辨率。
D.重量、體積大小、靈敏度
A.使用低頻率
B.使用高頻率
C.使用直徑小的探頭
D.涂上粘性小的油
A.當(dāng)超聲波的波長(zhǎng)遠(yuǎn)大于金屬晶粒大小時(shí)
B.當(dāng)超聲波的波長(zhǎng)等于或小于金屬晶粒大小時(shí)
C.當(dāng)超聲波的頻率過低或晶粒過小時(shí)
D.當(dāng)螢光屏上不出現(xiàn)草從回波時(shí)
當(dāng)超聲波斜入射至界面時(shí),發(fā)生反射與折射,并發(fā)生波型轉(zhuǎn)換,其關(guān)系遵守斯涅耳定律:
此定律適用范圍的正確說法是()
A.只適用于入射波是橫波的情況
B.只適用于入射波是縱波的情況
C.只適用于折射波是橫波的情況
D.適用于縱波與橫波的的折射與反射情況
最新試題
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯(cuò)誤的是()。
()是影響缺陷定量的因素。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低,()。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來(lái)確定。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng),超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為()。
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指()。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來(lái)表征。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。