A.可發(fā)現(xiàn)各種類型的缺陷
B.原理簡單容易理解
C.應(yīng)用方法比較簡單
D.被檢零件的形狀尺寸沒有限制
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A.可發(fā)現(xiàn)和評定工件的各種缺陷
B.準(zhǔn)確測定表面缺陷的的長度、深度和寬度
C.對表面缺陷顯示直觀且不受方向限制
D.以上都是
A.這種方法能精確地測量裂紋或不連續(xù)性的深度
B.這種方法能殖民地檢驗(yàn)大型零件
C.這種方法能發(fā)現(xiàn)淺的表面缺陷
D.使用不同類型的滲透材料可獲得較低或較高的靈敏度
A.不能用于鐵磁性材料
B.不能發(fā)現(xiàn)淺的表面缺陷
C.不能用于非金屬表面
D.不能發(fā)現(xiàn)近表面缺陷
A.較大的寬度
B.較大的深度
C.較大的寬深比
D.較小的寬深比
A.表面張力作用
B.對固體表面的浸潤性
C.毛細(xì)作用
D.上述都是
最新試題
X光檢驗(yàn)組按復(fù)查清單組織復(fù)查，并出具X光底片復(fù)查報(bào)告，復(fù)查無遺留問題方可進(jìn)行試壓。
一次完整的補(bǔ)焊過程中缺陷是否排除X光透照確認(rèn)可以不限次數(shù)，直至缺陷完全排除。
在射線照相檢驗(yàn)中，隨著射線能量的提高，得到的圖像不清晰度也將增大。
底片圖像質(zhì)量參數(shù)中的顆粒度與膠片的粒度是同一概念。
X射線探傷室應(yīng)建立健全輻射安全管理制度及應(yīng)急預(yù)案。
對含有內(nèi)穿過式線圈的薄壁管，影響其阻抗變化的因素有（）
產(chǎn)品焊接接頭最終質(zhì)量經(jīng)X射線檢驗(yàn)合格后不得再實(shí)施影響接頭性能的加工（如校形、修刮、重熔等），否則應(yīng)重新申請進(jìn)行X射線檢測。
對于圓柱導(dǎo)體的外通過式線圈，其阻抗變大的情況有（）
像質(zhì)計(jì)放置次數(shù)一般應(yīng)與透照次數(shù)相同，相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時(shí)可適當(dāng)減少放置次數(shù)．但不少于透照次數(shù)的三分之一。
超差缺陷是否排除，由缺陷挖排人員挖排后直接提出申請、檢驗(yàn)蓋章認(rèn)可后送X光檢測。