A.干法交流電;
B.千法直流電;
C.濕法交流電;
D.濕法直流電
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A.連續(xù)法;
B.剩磁法;
C.間斷法;
D.反向電流法
A.外表面;
B.壁厚的一半處;
C.兩端;
D.內(nèi)表面
A.使磁場(chǎng)變?nèi)酰?br />
B.使磁導(dǎo)率降低;
C.產(chǎn)生漏磁場(chǎng);
D.產(chǎn)生電流
A.磁粉的流動(dòng)性不再對(duì)檢驗(yàn)有影響;
B.直流電易于達(dá)到磁場(chǎng)飽和;
C.交流電的趨膚效應(yīng)使可發(fā)現(xiàn)缺陷的深度變小
D.沒有技術(shù)方面的理由
A.紫外光是可見光;
B.用來熒光磁粉探傷的紫外波長是3650埃;
C.被檢工件表面上的紫外光光強(qiáng)不得低于970lx
D.波長小于3300³10m的紫外光對(duì)人眼有害;
E.除A以外都對(duì)-10
最新試題
打亂材料磁疇排布的兩種方法是:加熱到居里點(diǎn)溫度以上熱處理退磁法和反磁場(chǎng)退磁法。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:檢測(cè)后加熱至600℃以上進(jìn)行熱處理的工件,一般可不進(jìn)行退磁。
在不退磁的情況下,周向磁化產(chǎn)生的剩磁比縱向磁化產(chǎn)生的剩磁有更大的危害性。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:當(dāng)辯認(rèn)細(xì)小缺陷磁痕時(shí)應(yīng)用2~10倍放大鏡進(jìn)行觀察。
根據(jù)JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,磁粉檢測(cè)前的工件表面準(zhǔn)備包括打磨表面、安裝接觸墊、封堵盲孔和涂敷反差增強(qiáng)劑。
剩磁法不能用于干法檢測(cè)。
用連續(xù)法檢測(cè)時(shí),檢測(cè)靈敏度幾乎不受被檢工件材質(zhì)的影響,僅與被檢工件表面磁場(chǎng)強(qiáng)度有關(guān)。
組合裝配件應(yīng)分解后再進(jìn)行磁粉檢測(cè)。
熒光磁粉檢測(cè)時(shí),磁痕的評(píng)定應(yīng)在暗室或暗處進(jìn)行,暗室或暗處可見光照度應(yīng)不小于20Lx。
干磁粉可采用手動(dòng)或電動(dòng)噴粉器以及其他合適的工具來施加,施加時(shí)磁粉應(yīng)厚些撒在工件表面上。