單項(xiàng)選擇題交流電磁化，需作斷電相位控制的是（）

A．連續(xù)法；
B．剩磁法


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1.單項(xiàng)選擇題當(dāng)磁化電流是交流電時(shí)，不宜使用（）

A．剩磁法；
B．連續(xù)法

2.單項(xiàng)選擇題對(duì)交流作半波整流是為了檢驗(yàn)（）

A．表面缺陷；
B．內(nèi)部缺陷；
C．表面和近表面缺陷；
D．以上都可以

3.單項(xiàng)選擇題下列磁化方法中，不直接把電流通入零件的是（）

A．芯棒法；
B．縱向通電法；
C．磁軛法；
D．觸頭法；
E．磁通貫通法；
F．A，C和E都是

4.單項(xiàng)選擇題半波整流電用來檢測(cè)（）

A．表面缺陷；
B．近表面缺陷；
C．A和B都是；
D．以上都不是

5.單項(xiàng)選擇題采用哪種磁化方法時(shí)，可能由于外部磁極太強(qiáng)而不能對(duì)零件進(jìn)行滿意的檢驗(yàn)？（）

A．周向磁化；
B．縱向磁化；
C．偏振磁化；
D．剩余磁化

最新試題

用連續(xù)法檢測(cè)時(shí)，檢測(cè)靈敏度不僅與被檢工件表面磁場(chǎng)強(qiáng)度有關(guān)，還受被檢工件材質(zhì)的影響。

題型：判斷題

JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：兩條或兩條以上缺陷磁痕在同一直線上且間距不大于2mm時(shí)，按一條磁痕處理，其長度為兩條磁痕之和加間距。

題型：判斷題

用連續(xù)法檢測(cè)時(shí)，檢測(cè)靈敏度幾乎不受被檢工件材質(zhì)的影響，僅與被檢工件表面磁場(chǎng)強(qiáng)度有關(guān)。

題型：判斷題

C型靈敏度試片與A型靈敏度試片使用方法相同，只是C型靈敏度試片能用于狹小部位。

題型：判斷題

JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：磁粉檢測(cè)時(shí)一般應(yīng)選用A1-60/100型標(biāo)準(zhǔn)試片。

題型：判斷題

JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：檢測(cè)后加熱至600℃以上進(jìn)行熱處理的工件，一般可不進(jìn)行退磁。

題型：判斷題

JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：當(dāng)辯認(rèn)細(xì)小缺陷磁痕時(shí)應(yīng)用2～10倍放大鏡進(jìn)行觀察。

題型：判斷題

在不退磁的情況下，周向磁化產(chǎn)生的剩磁比縱向磁化產(chǎn)生的剩磁有更大的危害性。

題型：判斷題

一般說來，進(jìn)行了周向磁化工件的退磁，應(yīng)先進(jìn)行一次縱向磁化。

題型：判斷題

磁粉檢測(cè)—橡膠鑄型法是采用連續(xù)法檢測(cè)。

題型：判斷題