最新試題
根據JB/T4730.4-2005標準規(guī)定，磁粉檢測前的工件表面準備包括打磨表面、安裝接觸墊、封堵盲孔和涂敷反差增強劑。
題型：判斷題
JB/T4730.4-2005標準規(guī)定：兩條或兩條以上缺陷磁痕在同一直線上且間距不大于2mm時，按一條磁痕處理，其長度為兩條磁痕之和加間距。
題型：判斷題
相關顯示是由漏磁場吸附磁粉形成的磁痕顯示。
題型：判斷題
對于交流線圈，線圈中的工件將影響電流的調整。
題型：判斷題
熒光磁粉檢測時，磁痕的評定應在暗室或暗處進行，暗室或暗處可見光照度應不小于20Lx。
題型：判斷題
JB/T4730.4-2005標準規(guī)定：當辯認細小缺陷磁痕時應用2～10倍放大鏡進行觀察。
題型：判斷題
JB/T4730.4-2005標準規(guī)定：采用軸向通電法和觸頭法磁化時，為了防止電弧燒傷工件表面，應將工件和電極接觸部分清除干凈或在電極上安裝非導電物質。
題型：判斷題
在工件內部的剩磁，周向磁化要比縱向磁化大的多。
題型：判斷題
磁粉檢測，所有的磁痕尺寸、數量和產生部位均應記錄并圖示。
題型：判斷題
JB/T4730.4-2005標準規(guī)定：剩磁應不大于0.3mT（240A/m）。
題型：判斷題