A.250A
B.500A
C.1000A
D.以上都不對(duì)
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A.更適合于野外現(xiàn)場探傷
B.成本低
C.可提高對(duì)細(xì)小缺陷的識(shí)別能力
D.最適用于干法
A.奧氏體鋼
B.馬氏體不銹鋼
C.鐵素體不銹鋼
D.以上都不適用
A.400安
B.600安
C.800安
D.1000安
A.只允許向裝有載液的容器中施加磁粉
B.只允許向裝有磁粉的容器中施加載液
C.先用少量載液把磁粉調(diào)成糊狀，然后再緩慢稀釋
D.以上三種方法都不對(duì)
A、材料被磁化的難易程度
B、磁場穿透材料的能力
C、檢測最小缺陷的能力
D、以上都是
最新試題
實(shí)際檢測中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測靈敏度適當(dāng)提高，這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做（）。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長工件上時(shí)，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
（）是影響缺陷定量的因素。
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
縱波直探頭徑向檢測實(shí)心圓柱時(shí)，在第一次底波之后，還有2個(gè)特定位置的反射波，這種波是（）。
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí)，下面敘述中（）是錯(cuò)誤的。
檢測靈敏度太高和太低對(duì)檢測都不利。靈敏度太低，（）。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度，即（）。
（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。