A.磁導(dǎo)率
B.電導(dǎo)率
C.淬火溫度
D.時(shí)效時(shí)間
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A.激磁電流的頻率
B.試件的磁導(dǎo)率
C.試件的電導(dǎo)率
D.以上都是
A.零件的合金成分
B.零件的熱處理狀態(tài)
C.零件的溫度
D.以上都是
A.感應(yīng)電流的強(qiáng)度
B.感應(yīng)電流的相位
C.感應(yīng)電流的頻率
D.以上都不是
A.目視法
B.射線法
C.磁粉法
D.渦流法
A.可在光線較暗的環(huán)境下觀察缺陷
B.被探測(cè)零件表面不會(huì)被腐蝕
C.對(duì)零件和環(huán)境的污染小
D.較易檢出微小的缺陷
最新試題
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。
實(shí)際檢測(cè)中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
()可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長(zhǎng)距離檢測(cè)。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射,這種波是()。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低,()。
()是影響缺陷定量的因素。
用橫波斜探頭檢測(cè),找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。