單項(xiàng)選擇題電位法檢測(cè)也叫做電位探針法，它可以用來測(cè)定導(dǎo)電材料上表面裂紋的（）。
A.性質(zhì)
B.寬度
C.深度
D.成分
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1.單項(xiàng)選擇題激光全息檢測(cè)利用的是光的（）現(xiàn)象。
A.反射
B.折射
C.衍射
D.干涉
2.單項(xiàng)選擇題微波檢測(cè)所應(yīng)用的微波屬于（）。
A.光波
B.聲波
C.紅外線
D.電磁波
3.單項(xiàng)選擇題電子內(nèi)窺鏡導(dǎo)入圖像的元件是（）
A、光導(dǎo)纖維
B、電荷耦合器件
C、棱鏡組
D、導(dǎo)光管
4.單項(xiàng)選擇題光纖內(nèi)窺鏡使用的光導(dǎo)纖維是采用（）材料制成的。
A.石英
B.玻璃
C.塑料
D.銀導(dǎo)線
E.a和b
5.單項(xiàng)選擇題對(duì)于目視檢驗(yàn),除了直接通過肉眼觀察和使用放大鏡以外,還使用的光電儀器是（）
A、光纖內(nèi)窺鏡
B、電子內(nèi)窺鏡
C、工業(yè)檢測(cè)閉路電視
D、以上都是
最新試題
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測(cè)長方法稱為（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
（）是影響缺陷定量的因素。
題型：單項(xiàng)選擇題
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí)，下面敘述中（）是錯(cuò)誤的。
題型：單項(xiàng)選擇題
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn)，說法錯(cuò)誤的是（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度，即（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
題型：單項(xiàng)選擇題
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低，（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說法錯(cuò)誤的是（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng)，超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為（）。
題型：單項(xiàng)選擇題