A.10N
B.45N
C.87N
D.177N
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A.VA-D
B.FB-W
C.FC-S
D.以上都不合適
A.在任何情況下,只要根據(jù)一種無損檢測(cè)方法的檢測(cè)結(jié)果,就能斷定被檢對(duì)象的內(nèi)部質(zhì)量情況
B.為了提高無損檢測(cè)的可靠性,無論用什么檢測(cè)方法都應(yīng)力求采用最高的檢測(cè)靈敏度
C.無損檢測(cè)的結(jié)果可以作為評(píng)定工件或材料質(zhì)量的重要依據(jù),但有時(shí)也需要根據(jù)其他檢驗(yàn)方法所得到的檢測(cè)參數(shù)作綜合評(píng)定
D.由于無損檢測(cè)的結(jié)果往往來自間接獲得的物理參數(shù),因此這種結(jié)果僅僅提供了對(duì)工件或材料評(píng)價(jià)的、不重要的參考數(shù)據(jù)
A.TC135
B.TC17
C.TC44
D.以上都是
A.靈敏度
B.效率
C.分辨率
D.可靠性
A.性質(zhì)
B.寬度
C.深度
D.成分
最新試題
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè),儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
單探頭法容易檢出()。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。