最新試題

點缺陷,如空位、間隙原子、反位缺陷、替位缺陷,和由它們構(gòu)成的復(fù)合體。()

題型:判斷題

表面鈍化工藝是在半導(dǎo)體芯片表面復(fù)蓋一層保護膜,使器件的表面與周圍氣氛隔離。()

題型:判斷題

厚膜漿料屬于牛頓流體,因此其粘度屬于正常黏度。()

題型:判斷題

遷移率是反映半導(dǎo)體中載流子導(dǎo)電能力的重要參數(shù)。摻雜半導(dǎo)體的電導(dǎo)率一方面取決于摻雜的濃度,另一方面取決于遷移率的大小。同樣的摻雜濃度,載流子的遷移率越大,材料的電導(dǎo)率就越高。()

題型:判斷題

位錯就是由范性形變造成的,它可以使晶體內(nèi)的一原子或離子脫離規(guī)則的周期排列而位移一段距離,位移區(qū)與非位移區(qū)交界處必有原子的錯位,這樣產(chǎn)生線缺陷稱為位錯。()

題型:判斷題

拋光片的電學(xué)參數(shù)包括電阻率,載流子濃度,遷移率,直徑、厚度、主參考面等。()

題型:判斷題

集成電容主要有哪幾種結(jié)構(gòu)?

題型:問答題

場效應(yīng)晶體管的柵源電壓變化可以控制漏電流變化。()

題型:判斷題

半導(dǎo)體芯片制造工藝對水質(zhì)的要求一般.()

題型:判斷題

金屬剝離工藝是以具有一定圖形的光致抗蝕劑膜為掩膜,帶膠蒸發(fā)或濺射所需的金屬,然后在去除光致抗蝕劑膜的同時,把膠膜上的金屬一起去除干凈。()

題型:判斷題