A、產(chǎn)生波動(dòng)
B、產(chǎn)生振蕩
C、產(chǎn)生電磁波
D、產(chǎn)生光波
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A.波速、頻率、性質(zhì)之間關(guān)系
B.水平、深度、聲程之間關(guān)系
C.距離、波幅、當(dāng)量大小之間關(guān)系
D.以上都不對(duì)
A.SGD曲線
B.GDS曲線
C.SDG曲線
D.DGS曲線
A.波幅增益量
B.缺陷當(dāng)量尺寸
C.距離
D.以上都不對(duì)
A.探頭的晶片面積
B.距探頭距離
C.偏離探頭程度
D.以上都不對(duì)
A.隨著聲程的增加而下降
B.隨著聲程的增加而增加
C.隨著聲程的減小而下降
D.以上都不對(duì)
最新試題
滲透檢測(cè)工藝對(duì)顯像操作的要求有()。
阻止?jié)B透液滲入及滲出表面開(kāi)口缺陷的固體污染物有()。
磁場(chǎng)信號(hào)測(cè)量中可采用()方法。
在氣候潮濕地區(qū)或潮濕季節(jié),儀器長(zhǎng)期不用,應(yīng)做到(),以驅(qū)除潮氣,防止儀器內(nèi)部短路或擊穿。
用雙晶探頭檢測(cè)時(shí),為增加缺陷顯現(xiàn)次數(shù)和反射幅度,檢測(cè)細(xì)長(zhǎng)缺陷應(yīng)使探頭()。
冷裂紋常見(jiàn)的有()。
采用橫波斜探頭在圓柱曲面外圓進(jìn)行周向檢測(cè)時(shí),缺陷定位說(shuō)法正確的有()。
工藝評(píng)定試件焊后應(yīng)進(jìn)行()。
Z 超聲波檢測(cè)鑄件時(shí)可作為缺陷記錄的是()。
關(guān)于波束未擴(kuò)散區(qū),說(shuō)法正確的是()。