A.27個(gè)質(zhì)子、32個(gè)中子
B.27個(gè)質(zhì)子、33個(gè)中子
C.28個(gè)質(zhì)子、32個(gè)中子
D.28個(gè)質(zhì)子、33個(gè)中子
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.質(zhì)子、電子、中子
B.質(zhì)子、電子、γ射線
C.光子、電子、中子
D.原子、質(zhì)子、電子
A.面積大于聲束截面的當(dāng)量一定大
B.面積小于聲束截面的當(dāng)量反而大
C.當(dāng)量忽大忽小
D.以上都可能
A.回波幅度與底面反射波高度相差不大
B.底面反射完全消失
C.缺陷反射波高于底面回波
D.底波與缺陷波同時(shí)存在
A.F/B相同，缺陷當(dāng)量相同
B.該法不能給出缺陷的當(dāng)量尺寸
C.適于對(duì)尺寸較小的缺陷定量
D.適于對(duì)密集性缺陷的定量
A.能
B.不能
C.有時(shí)能
D.觀察不到表面缺陷波
最新試題
化學(xué)反應(yīng)型著色滲透劑的特點(diǎn)是（）。
在氣候潮濕地區(qū)或潮濕季節(jié)，儀器長(zhǎng)期不用，應(yīng)做到（），以驅(qū)除潮氣，防止儀器內(nèi)部短路或擊穿。
磁場(chǎng)信號(hào)測(cè)量中可采用（）方法。
Z 超聲波檢測(cè)鑄件時(shí)可作為缺陷記錄的是（）。
大厚度比試件透照特殊技術(shù)中的補(bǔ)償技術(shù)是指利用（）填補(bǔ)工件的較薄部分，使透照厚度差減小的方法。
潤(rùn)濕是受檢表面附著的氣體被滲透液體所取代的現(xiàn)象，發(fā)生潤(rùn)濕時(shí)（）。
用雙晶探頭檢測(cè)時(shí)，為增加缺陷顯現(xiàn)次數(shù)和反射幅度，檢測(cè)細(xì)長(zhǎng)缺陷應(yīng)使探頭（）。
無(wú)損檢測(cè)設(shè)備、材料采購(gòu)驗(yàn)收內(nèi)容包括（）驗(yàn)收。
超聲波檢測(cè)發(fā)現(xiàn)缺陷，在不同的方向上檢測(cè)，缺陷回波呈現(xiàn)此起比伏互相彼連的狀態(tài)，判定為（）。
將彎曲液面對(duì)液體的壓強(qiáng)與平面液面對(duì)液體的壓強(qiáng)相比，任何液面膜對(duì)液體施以附加壓強(qiáng)，下面描述正確的是（）。