A.試件厚度差
B.射線的質(zhì)
C.散射線
D.以上均不對(duì)
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A、線質(zhì)變軟,強(qiáng)度變大,波長(zhǎng)不變
B、線質(zhì)不變,強(qiáng)度不變,波長(zhǎng)變短
C、線質(zhì)變硬,強(qiáng)度變大,波長(zhǎng)變長(zhǎng)
D、線質(zhì)不變,強(qiáng)度變大,波長(zhǎng)不變
A.其檢測(cè)靈敏度一般較X射線照相法低
B.對(duì)形狀復(fù)雜的零件檢查有困難
C.初始投入較高,設(shè)備較復(fù)雜
D.以上都對(duì)
A.大焦點(diǎn)、可變電位
B.大焦點(diǎn)、恒電位
C.小焦點(diǎn)、恒電位
D.以上都不對(duì)
A.質(zhì)量
B.重量
C.強(qiáng)度
D.射線能量
A.0.1
B.1
C.10
D.100
最新試題
超聲波檢測(cè)夾渣缺陷反射波特征包括()。
鑄件熒光滲透檢測(cè)時(shí),()。
滲透檢測(cè)工藝對(duì)顯像操作的要求有()。
采用橫波斜探頭在圓柱曲面外圓進(jìn)行周向檢測(cè)時(shí),缺陷定位說(shuō)法正確的有()。
在沒(méi)有外加磁場(chǎng)作用時(shí),鐵磁性材料內(nèi)出現(xiàn)()現(xiàn)象。
對(duì)漏磁檢測(cè)原理描述正確的有()。
用雙晶探頭檢測(cè)時(shí),為增加缺陷顯現(xiàn)次數(shù)和反射幅度,檢測(cè)細(xì)長(zhǎng)缺陷應(yīng)使探頭()。
大厚度比試件透照特殊技術(shù)中的補(bǔ)償技術(shù)是指利用()填補(bǔ)工件的較薄部分,使透照厚度差減小的方法。
無(wú)損檢測(cè)設(shè)備、材料采購(gòu)驗(yàn)收內(nèi)容包括()驗(yàn)收。
潤(rùn)濕是受檢表面附著的氣體被滲透液體所取代的現(xiàn)象,發(fā)生潤(rùn)濕時(shí)()。