A.中子射線(xiàn)照相
B.射線(xiàn)CT技術(shù)
C.康普頓背散射成像技術(shù)
D.A、B和C
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你可能感興趣的試題
A.金屬表面的腐蝕裂紋
B.原子序數(shù)低、厚度小物體的層析射線(xiàn)照相
C.厚度很大物體的表面層內(nèi)部缺陷
D.A、B和C
A.距離
B.連線(xiàn)
C.直線(xiàn)斜率
D.以上都不是
A.不大于曝光曲線(xiàn)推薦的最小值
B.不小于曝光曲線(xiàn)推薦的最小值
C.不小于曝光曲線(xiàn)推薦的最大值
D.以上都不是
A、曲線(xiàn)的梯度
B、寬容度
C、對(duì)比度的平均梯度
D、黑度
A.射線(xiàn)的能量
B.幾何因素與膠片粒度
C.膠片的反差系數(shù)
D.A、B和C
最新試題
大厚度比試件透照特殊技術(shù)中的補(bǔ)償技術(shù)是指利用()填補(bǔ)工件的較薄部分,使透照厚度差減小的方法。
工藝評(píng)定試件焊后應(yīng)進(jìn)行()。
采用橫波斜探頭在圓柱曲面外圓進(jìn)行周向檢測(cè)時(shí),缺陷定位說(shuō)法正確的有()。
超聲波檢測(cè)夾渣缺陷反射波特征包括()。
Z 超聲波檢測(cè)鑄件時(shí)可作為缺陷記錄的是()。
用雙晶探頭檢測(cè)時(shí),為增加缺陷顯現(xiàn)次數(shù)和反射幅度,檢測(cè)細(xì)長(zhǎng)缺陷應(yīng)使探頭()。
將彎曲液面對(duì)液體的壓強(qiáng)與平面液面對(duì)液體的壓強(qiáng)相比,任何液面膜對(duì)液體施以附加壓強(qiáng),下面描述正確的是()。
潤(rùn)濕是受檢表面附著的氣體被滲透液體所取代的現(xiàn)象,發(fā)生潤(rùn)濕時(shí)()。
鑄件熒光滲透檢測(cè)時(shí),()。
滲透劑檢測(cè)壓力噴灌的存放應(yīng)避免()。