A、軸向通電磁化
B、線圈法縱向磁化
C、觸頭法通電磁化
D、磁軛法磁化
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A.1/2的磁極間距
B.1/3的磁極間距
C.1/4的磁極間距
D.3/4的磁極間距
A.用A型試驗(yàn)片可以估計(jì)磁場(chǎng)強(qiáng)度的大小是否滿足靈敏度要求
B.A型試驗(yàn)片貼在試件上時(shí),要把有槽的一面作為外側(cè)
C.試片上的數(shù)字15/100是表示槽的深度為100μm,寬度為15μm
D.A、B和C
A.試片厚度為15/100mm
B.試片上的槽深為15/100mm
C.試片厚度100μm,槽深15μm
D.槽深100μm,槽寬15μm
A、實(shí)際應(yīng)用中對(duì)切斷磁化時(shí)間沒有多大關(guān)系
B、完成噴灑磁懸液的同時(shí)中止
C、噴灑磁懸液后1S內(nèi)中止
D、噴灑磁懸液前1S中止
A.掩蓋掉缺陷的磁痕
B.使襯度變好
C.檢測(cè)靈敏度更高,沒有什么壞處
D.不得不增加磁化電流
最新試題
用雙晶探頭檢測(cè)時(shí),為增加缺陷顯現(xiàn)次數(shù)和反射幅度,檢測(cè)細(xì)長(zhǎng)缺陷應(yīng)使探頭()。
大厚度比試件透照特殊技術(shù)中的補(bǔ)償技術(shù)是指利用()填補(bǔ)工件的較薄部分,使透照厚度差減小的方法。
超聲波探傷儀要盡量避免在()場(chǎng)合使用。
磁場(chǎng)信號(hào)測(cè)量中可采用()方法。
單晶體金屬特點(diǎn)有()。
顯影斑紋呈黑色條狀或?qū)拵?,在整張底片范圍出現(xiàn),其產(chǎn)生的原因是()。
關(guān)于波束未擴(kuò)散區(qū),說法正確的是()。
無(wú)損檢測(cè)設(shè)備、材料采購(gòu)驗(yàn)收內(nèi)容包括()驗(yàn)收。
阻止?jié)B透液滲入及滲出表面開口缺陷的固體污染物有()。
人的眼睛在強(qiáng)光下,()。