A.不合格標(biāo)識(shí)
B.合格標(biāo)識(shí)
C.待檢標(biāo)識(shí)
D.全部標(biāo)識(shí)
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A.風(fēng)險(xiǎn)源
B.風(fēng)險(xiǎn)點(diǎn)
C.風(fēng)險(xiǎn)源、風(fēng)險(xiǎn)點(diǎn)
D.知識(shí)
A.檢修
B.不合格
C.合格
D.合格和不合格
A.合格品、不合格品
B.合格品、不合格品、待檢品
C.不合格品、待檢品
D.合格品、待檢品
A.反射
B.折射
C.衍射
D.散射
A.降低
B.升高
C.不確定
D.先升高再降低
最新試題
超聲波斜探頭的K值等于()的正切值。
某超聲波探頭,壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm,則該探頭工作頻率為()
使用變型波檢測的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是()
光電效應(yīng)發(fā)生的機(jī)率隨什么變化()
射線照片上細(xì)節(jié)影像的可識(shí)別性主要決定于()
一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線,穿過一個(gè)厚度為X的物質(zhì),其強(qiáng)度降低量為I,可用I=-μI0X表示,μ為比例常數(shù),此式代表什么現(xiàn)象()
探頭的分辨力()
射線照片上一個(gè)細(xì)節(jié)的影像是否能被眼睛識(shí)別出來,最主要的是決定于()
在筒身外壁做曲面周向探傷時(shí)(r、R為簡體的內(nèi)、外徑),斜探頭(β為折射角)的臨界角應(yīng)滿足()
以下試塊中,能用于測定縱波直探頭分辨力的是()