A.光結(jié)表面
B.粗糙表面
C.A和B
D.視具體情況
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A.頻率越低
B.頻率越高
C.頻率不變
D.以上都不對(duì)
A.連續(xù)波穿透法
B.脈沖波反射法
C.連續(xù)波共振法
D.剪切波諧振法
A.分辨率
B.時(shí)基線性
C.垂直線性
D.動(dòng)態(tài)范圍
A.掃描電路
B.頻帶寬度
C.動(dòng)態(tài)范圍
D.放大倍數(shù)
A.水平線性、垂直線性、動(dòng)態(tài)范圍
B.頻帶寬度、探測(cè)寬度、重復(fù)頻率
C.靈敏度余量、盲區(qū)、分辨率
D.入射點(diǎn)、進(jìn)場(chǎng)長(zhǎng)度、擴(kuò)散角
最新試題
實(shí)際檢測(cè)中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高，這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做（）。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說法錯(cuò)誤的是（）。
板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)（），其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí)，需要進(jìn)行傳輸修正。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為（）。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí)，（）不是影響缺陷定位的主要因素。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí)，下面敘述中（）是錯(cuò)誤的。
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量（）。
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。