單項(xiàng)選擇題渦流試驗(yàn)時(shí)，被檢材料的變量可以作為哪一種變化量來(lái)檢測(cè)？（）

A.試驗(yàn)速度；
B.傳感線圈的阻抗；
C.以上都不是；
D.以上都是.


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1.單項(xiàng)選擇題用含有頻率鑒別電路的系統(tǒng)對(duì)管材進(jìn)行渦流檢驗(yàn)時(shí)，下面哪種變量屬于高頻變量？（）

A.小缺陷；
B.電導(dǎo)率變化；
C.直徑變化；
D.壁厚變化.

2.單項(xiàng)選擇題探頭標(biāo)稱直徑與欲檢出的最小缺陷之比應(yīng)當(dāng)（）.

A．小于2；
B.大于2；
C.大于4；
D.大于10.

5.單項(xiàng)選擇題用橢圓方法進(jìn)行渦流試驗(yàn)時(shí)，一個(gè)變量可以由橢圓或直線的角度指示，而另一個(gè)變量（）.

A.可由橢圓亮度指示；
B.可由直線的水平長(zhǎng)度指示；
C.可由橢圓的尺寸指示；
D.可由波形的正弦形狀指示.

最新試題

對(duì)于圓柱導(dǎo)體的外通過式線圈，其阻抗變大的情況有（）

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

X射線檢測(cè)圖像直觀、缺陷定性準(zhǔn)確，因此焊接缺陷無(wú)論大小和延伸方向都可以選擇X射線檢測(cè)。

題型：判斷題

對(duì)于直徑Φ50mm導(dǎo)管環(huán)焊縫，采用的透照方式為（）。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

觀察底片時(shí)，為能識(shí)別缺陷圖像，缺陷圖像對(duì)比度與圖像噪聲之比應(yīng)不小于識(shí)別閾值。

題型：判斷題

X光檢驗(yàn)組按復(fù)查清單組織復(fù)查，并出具X光底片復(fù)查報(bào)告，復(fù)查無(wú)遺留問題方可進(jìn)行試壓。

題型：判斷題

X射線檢驗(yàn)人員負(fù)責(zé)對(duì)需排除的超標(biāo)缺陷實(shí)施定位、做好相應(yīng)標(biāo)注，確保定位準(zhǔn)確。

題型：判斷題

下面列出的確定透照布置應(yīng)考慮的基本內(nèi)容中，錯(cuò)誤的是（）。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

產(chǎn)品焊接接頭最終質(zhì)量經(jīng)X射線檢驗(yàn)合格后不得再實(shí)施影響接頭性能的加工（如校形、修刮、重熔等），否則應(yīng)重新申請(qǐng)進(jìn)行X射線檢測(cè)。

題型：判斷題

對(duì)含有內(nèi)穿過式線圈的薄壁管，影響其阻抗變化的因素有（）

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

送檢產(chǎn)品工序狀態(tài)及表面質(zhì)量應(yīng)符合工藝規(guī)程或工藝處理意見的要求，經(jīng)表面檢驗(yàn)合格，申請(qǐng)單無(wú)需檢驗(yàn)蓋章確認(rèn)。

題型：判斷題