A.t分布的概率密度函數(shù)在整個(gè)軸上呈偏態(tài)分布
B.t分布的概率密度函數(shù)在正半軸上呈偏態(tài)分布
C.自由度為n-1的t分布概率密度函數(shù)與標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布N(0，1)的概率密度函數(shù)的圖形大致類似
D.自由度為n-1的t分布概率密度函數(shù)與二項(xiàng)分布b(n，p)的概率密度函數(shù)的圖形大致類似
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A.2-2Ф(4)
B.1-Ф(4)
C.2Ф(4)
D.2Ф(4)-1
A.1．5
B.0.05
C.0.225
D.0.15
A.0.33
B.0.25
C.1．0
D.0.02
A.E(X)=10
B.E(X)=9
C.Vax(X)=0.3
D.Vax(X)=0.9
E.Vax(X)=0.3
A.產(chǎn)品的壽命檢驗(yàn)
B.冶金類產(chǎn)品的檢驗(yàn)
C.化工類產(chǎn)品檢驗(yàn)
D.毫無統(tǒng)計(jì)規(guī)律可言的事物的檢驗(yàn)
最新試題
下面關(guān)于t分布的說法，正確的有（）。
抽樣檢驗(yàn)不適用于（）。
某公司加工某種規(guī)格的軸，其直徑要求為φ10±o．03(mm)。長(zhǎng)期檢驗(yàn)結(jié)果表明，其直徑均值為μ=9．99(mm)，標(biāo)準(zhǔn)差為σ=0.005(mm)。該過程的偏移系數(shù)K為（）。
假設(shè)檢驗(yàn)的基本步驟包括（）。
設(shè)隨機(jī)變量2服從λ＝2的泊松分布，則P(X≤2)＝（）。
已知一批電阻的電阻值服從正態(tài)分布，
一元線性回歸方程一定進(jìn)過的點(diǎn)是()。
一鑄件上的缺陷數(shù)X服從泊松分布，每鑄件上的平均缺陷數(shù)是0.5，則：一鑄件上僅有一個(gè)缺陷的概率為（）。
設(shè)隨機(jī)變量x服從二項(xiàng)分布b(10，0.9)，則其均值與標(biāo)準(zhǔn)差分別為（）。
設(shè)隨機(jī)變量Z的分布列為X:135P:0.40.50.1則E(X)為（）。