單項(xiàng)選擇題直探頭從端部探測(cè)細(xì)棒狀工件時(shí)，在底波后面出現(xiàn)的遲到波是由于聲束射到工件側(cè)面產(chǎn)生（）所致。

A、窄脈沖
B、衰減
C、波型轉(zhuǎn)換
D、粗晶


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1.單項(xiàng)選擇題零件的材料組織或密集的細(xì)小缺陷在熒光屏只產(chǎn)生許多小信號(hào)顯示叫做（）。

A、底面反射
B、表面反射
C、缺陷反射
D、雜波

2.單項(xiàng)選擇題焊縫斜角探傷時(shí)，如采用直射法，應(yīng)該考慮（）等干擾回波的影響。

A、結(jié)構(gòu)反射和變型波
B、板材底面回波
C、三角反射
D、以上全部

3.單項(xiàng)選擇題在探測(cè)工件側(cè)壁附近的缺陷時(shí)，由于存在著（），所以探傷靈敏度會(huì)明顯偏低。

A、側(cè)壁干擾
B、61°角反射波
C、工件底面不平
D、以上都對(duì)

4.單項(xiàng)選擇題當(dāng)要求探頭有最大靈敏度時(shí)（）。

A、應(yīng)使用直探頭
B、要使用大晶片探頭
C、壓電元件應(yīng)在其基頻上激發(fā)
D、探頭的頻帶應(yīng)盡可能寬

5.單項(xiàng)選擇題試塊的最小幾何尺寸根據(jù)幾何尺寸可能產(chǎn)生的干擾雜波必須比參考回波遲到（）。

A、1/2λ以上
B、2λ以上
C、4λ以上
D、以上都不對(duì)

最新試題

隨著渦流檢側(cè)儀器制造技術(shù)的發(fā)展，出現(xiàn)了多種型號(hào)的同時(shí)具備探傷、電導(dǎo)率測(cè)量（）測(cè)量功能的通用型儀器。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

根據(jù)檢測(cè)對(duì)象和目的的不同，渦流檢測(cè)儀器一般可分為（）、渦流電導(dǎo)儀和渦流測(cè)厚儀三種。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

磁性測(cè)厚技術(shù)包括機(jī)械式和（）兩種測(cè)量方法。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

渦流檢測(cè)線圈的互感線圈一般由（）構(gòu)成。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

對(duì)檢測(cè)儀的時(shí)間基線進(jìn)行校正后，缺陷的埋藏深度可從熒光屏的（）上讀出。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

各類渦流檢測(cè)儀器的工作原理和（）是相同的。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

渦流檢測(cè)線圈的自感式線圈由（）構(gòu)成。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

當(dāng)波束中心線與缺陷面（）且回波最（）時(shí)，移動(dòng)探頭使波束中心（），回波高度當(dāng)隨之下降。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

渦流檢測(cè)中的對(duì)比試樣的（）和材質(zhì)相對(duì)被檢測(cè)產(chǎn)品必須具有代表性。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

渦流檢測(cè)儀的阻抗幅值型儀器在顯示終端僅給出（）的相關(guān)信息。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題