A、耦合不良
B、存在與聲束不垂直的缺陷
C、存在與始脈沖不能分開的近表面缺陷
D、以上都可能
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A、采用當(dāng)量試塊比較法測定的結(jié)果
B、對大于聲束的缺陷，采用底波對比而測得的結(jié)果
C、根據(jù)缺陷反射波高和探頭移動的距離而測得的結(jié)果
D、缺陷定量法之一，和AVG曲線的原理相同
A、窄脈沖
B、衰減
C、波型轉(zhuǎn)換
D、粗晶
A、底面反射
B、表面反射
C、缺陷反射
D、雜波
A、結(jié)構(gòu)反射和變型波
B、板材底面回波
C、三角反射
D、以上全部
A、側(cè)壁干擾
B、61°角反射波
C、工件底面不平
D、以上都對
最新試題
對檢測儀的時間基線進(jìn)行校正后，缺陷的埋藏深度可從熒光屏的（）上讀出。
波束截面中心聲能（），隨著與中心的距離的增大，聲能（）
渦流檢測中的對比試樣的（）和材質(zhì)相對被檢測產(chǎn)品必須具有代表性。
當(dāng)缺陷面積大于聲束截面時，如果聲束軸線移到缺陷邊緣，缺陷波高約為聲束軸線在缺陷中部時波高的（）
鑄件超聲檢測的特點(diǎn)是常采用低頻聲被以減輕衰減和散射，相應(yīng)的可檢缺陷尺寸（）
對于接觸法只須將能使缺陷落在其遠(yuǎn)場區(qū)內(nèi)的縱波直探頭在試件表面移動，即可獲得缺陷的（）所在的位置，從而定出缺陷的平面位置。
采用以（）為橫坐標(biāo)，以平底孔直徑標(biāo)注各當(dāng)量曲線作成實(shí)用AVG曲線。
渦流檢測輔助裝置的試樣傳動裝置用于形狀規(guī)則產(chǎn)品的（）
隨著渦流檢側(cè)儀器制造技術(shù)的發(fā)展，出現(xiàn)了多種型號的同時具備探傷、電導(dǎo)率測量（）測量功能的通用型儀器。
當(dāng)波束不再與缺陷相遇，則回波（）