A.400～760nm
B.400～760mm
C.400～760cm
D.400～760m
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以雙縫干涉實(shí)驗(yàn)中，波長(zhǎng)為λ的單色平行光垂直入射到縫間距為a的雙縫上，屏到雙縫的距離為D，則某一條明紋與其相鄰的一條暗紋的間距為：（）
A.A
B.B
C.C
D.D
A.λ
B.1.5λ
C.2λ
D.3λ
A.2
B.3
C.4
D.5
A.自然光
B.部分偏振光
C.完全偏振光
D.圓偏振光
P1和P2為偏振化方向相互垂直的兩個(gè)平行放置的偏振片，光強(qiáng)為I0的自然光垂直入射在第一個(gè)偏振片P1上，則透過(guò)P1和P2的光強(qiáng)分別為：（）
A.A
B.B
C.C
D.D
最新試題
在真空中波長(zhǎng)為λ的單色光，在折射率為n的透明介質(zhì)中從A點(diǎn)沿某路徑傳播到（）
自然光以60°的入射角照射到不知其折射率的某一透明介質(zhì)表面時(shí)，反射光為線偏振光，則應(yīng)知折射光和折射角分別為：（）
在單縫夫瑯禾費(fèi)衍射實(shí)驗(yàn)中，波長(zhǎng)為λ的單色光垂直入射在寬度為a=4λ的單縫上，對(duì)應(yīng)于衍射角為30°的方向上，單縫處波陣面可分成的半波帶數(shù)目為：（）
波長(zhǎng)為λ的單色平行光垂直入射到薄膜上，已知n1>n3，如圖所示。則從薄膜上、下兩表面反射的光束①與②的光程差是：（）
在雙縫干涉實(shí)驗(yàn)中，若用透明的云母片遮住上面的一條縫，則干涉圖樣如何變化？（）
波長(zhǎng)為λ的X射線，投射到晶體常數(shù)為d的晶體上，取k=0，2，3，…，出現(xiàn)X射線衍射加強(qiáng)的衍射角θ（衍射的X射線與晶面的夾角）滿足的公式為：（）
如果兩個(gè)偏振片堆疊在一起，且偏振化方向之間夾角呈30°，假設(shè)二者對(duì)光無(wú)吸收，光強(qiáng)為I0的自然光垂直入射在偏振片上，則出射光強(qiáng)為：（）
用劈尖干涉法可檢測(cè)工件表面缺陷，當(dāng)波長(zhǎng)為λ的單色平行光垂直入射時(shí)，若觀察到的干涉條紋如圖所示，每一條紋彎曲部分的頂點(diǎn)恰好與其左邊條紋的直線部分的連線相切，則工件表面與條紋彎曲處對(duì)應(yīng)的部分應(yīng)：（）
一束光是自然光和線偏振光的混合光，讓它垂直通過(guò)一偏振片。若以此入射光束為軸旋轉(zhuǎn)偏振片，測(cè)得透射光強(qiáng)度最大值是最小值的5倍，那么入射光束中自然光與線偏振光的光強(qiáng)比值為：（）
真空中波長(zhǎng)為λ的單色光，在折射率為n的均勻透明媒質(zhì)中，從A點(diǎn)沿某一路徑傳播到B點(diǎn)。設(shè)路徑的長(zhǎng)度為ι，A、B兩點(diǎn)光振動(dòng)相位差記為△φ，則ι和△φ的值分別為：（）