A.后視點(diǎn)平面坐標(biāo)
B.測(cè)站點(diǎn)三維坐標(biāo)
C.儀器點(diǎn)和棱鏡高
D.待測(cè)點(diǎn)三維坐標(biāo)
E.以上都是
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A.測(cè)站點(diǎn)坐標(biāo)
B.測(cè)站儀器高
C.棱鏡高
D.前視方位角
E.后視方位角
A.加.乘常數(shù)誤差
B.周期誤差
C.幅相誤差
D.相位不均勻性誤差
E.以上都是
A.全站儀的物鏡不能對(duì)著陽(yáng)光或強(qiáng)光源,以免損壞物鏡的光敏二極管.
B.在陽(yáng)光下使用全站儀時(shí),需撐傘
C.全站儀在使用時(shí)應(yīng)避免測(cè)線(xiàn)兩側(cè)及鏡站后方有反光物體
D.全站儀在一天當(dāng)中的最佳觀(guān)測(cè)時(shí)間為:上午日出后一個(gè)小時(shí)至兩個(gè)小時(shí),下午日落前三小時(shí)至半小時(shí)
E.陰天.有微風(fēng)時(shí),全天都可觀(guān)測(cè)
A.在方向數(shù)較多的情況下,全站儀測(cè)量角度一般用方向觀(guān)測(cè)法
B.全站儀在測(cè)量水平角時(shí),為了提高精度,一般需按規(guī)范要求采用多測(cè)回進(jìn)行觀(guān)測(cè)
C.全站儀在測(cè)量水平角時(shí),每一測(cè)回必須配置度盤(pán)
D.全站儀采用測(cè)回法測(cè)量角度,進(jìn)行多次測(cè)回時(shí),全站儀每次均需將零方向置零
E.全站儀測(cè)量豎角時(shí),只需在不同的盤(pán)位狀態(tài),照準(zhǔn)觀(guān)測(cè)目標(biāo),得到相應(yīng)的觀(guān)測(cè)數(shù)據(jù)即可
A.電子測(cè)距儀
B.電子經(jīng)緯儀
C.電子記錄裝置
D.高精度的光學(xué)經(jīng)緯儀
E.電腦
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視差的存在是客觀(guān)正?,F(xiàn)象,可以忽略直接讀數(shù)。
下列關(guān)于測(cè)繪內(nèi)業(yè)場(chǎng)所設(shè)備擺放正確的是()。
全站儀視準(zhǔn)軸應(yīng)平行于橫軸。
用大于架頭直徑的刀口尺和厚薄規(guī)檢驗(yàn)()。
在半徑為10km范圍內(nèi)進(jìn)行距離的測(cè)量時(shí),可以不必考慮地球曲率的影響。
()不需要考慮地面通視情況,且放樣點(diǎn)位之間獨(dú)立,但不能用于放樣精度為mm級(jí)的精密工程。
手持式激光測(cè)距儀檢定各基準(zhǔn)面測(cè)量一致性時(shí),不同基準(zhǔn)面需要以單次測(cè)量模式測(cè)距()次,取平均值作為測(cè)量值。
基坑開(kāi)挖需要進(jìn)行高程測(cè)設(shè)。
測(cè)量外業(yè)儀器一般1年須進(jìn)行防銹、防霉、防霧處理。
外業(yè)儀器一般情況下6個(gè)月應(yīng)對(duì)儀器光學(xué)零件外露表面進(jìn)行一次全面擦拭。