A.CP=1.5 Cpk=1.33
B.CP=2.0 Cpk=1.67
C.CP=2.0 Cpk=2.1
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.99.99%
B.95.73%
C.99.73%
A.超控制
B.超規(guī)范
C.超警戒
A.當(dāng)CHART含蓋混合的工藝設(shè)備輸出,則計(jì)算控制線的數(shù)據(jù)包含所有的設(shè)備輸出
B.當(dāng)過程變差變大時(shí)即可重新計(jì)算控制線
C.計(jì)算控制線時(shí)明顯的異常點(diǎn)(如:數(shù)據(jù)輸錯(cuò),誤操作等)應(yīng)該去除后再算,以免放寬控制線
A.新設(shè)備加入或設(shè)備移出
B.過程波動變大
C.規(guī)范更改
A.1點(diǎn)超3sigma和連續(xù)7點(diǎn)在中心值一側(cè)
B.1點(diǎn)超3sigma和3點(diǎn)中有2點(diǎn)在A區(qū)或A區(qū)以外
C.1點(diǎn)超3sigma和連續(xù)7點(diǎn)上升或下降
最新試題
沒有超出控制界限的點(diǎn),過程能力是可接受的。
當(dāng)過程能力不足時(shí),為提高過程能力,應(yīng)進(jìn)一步減小普通原因和特殊原因造成的變差。
P圖控制法適用于對所有的計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)做統(tǒng)計(jì)過程控制。
當(dāng)過程能力較高時(shí),為降低成本,采取方法使之降低。
重要過程事件(如工具變更,機(jī)器修理等)須摘記于相應(yīng)之控制圖及/或直方圖上。
“σ ”指 (),是用來衡量一個(gè)總數(shù)里標(biāo)準(zhǔn)誤差的統(tǒng)計(jì)單位。
我們的子組容量都是4。
在繪制控制圖時(shí),不管采取何種方法,均應(yīng)注意控制圖應(yīng)能顯示過程受控,否則不能計(jì)算過程能力。
Xbar
SPC