A.可用于比較同一組樣本被兩個(gè)不同量測設(shè)備量測的結(jié)果
B.計(jì)算樣本量時(shí)配對t檢驗(yàn)的計(jì)算方法與雙樣本t檢驗(yàn)相同
C.并不要求檢定標(biāo)準(zhǔn)差是否一致
D.數(shù)據(jù)收集方式為成對的數(shù)據(jù)收集
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A.95%置信度對應(yīng)的風(fēng)險(xiǎn)水平為0.05
B.95%的樣本的平均值在總體均值的1.96倍標(biāo)準(zhǔn)誤內(nèi)(正態(tài)分布時(shí)Z=±1.96s內(nèi)的概率約為95%)
C.置信區(qū)間是在點(diǎn)估計(jì)前面加一個(gè)確定性的概率
D.置信區(qū)間就是在區(qū)間估計(jì)前面加上一個(gè)確定性概率
A.受平均值μ的影響
B.受樣本容量n和概率p的影響
C.適用于僅有兩種可能結(jié)果的情況
D.適用于計(jì)數(shù)型缺陷
A.把非正態(tài)分布的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成正態(tài)分布的數(shù)據(jù)
B.試圖用多種方法把非正態(tài)分布的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成正態(tài)分布的數(shù)據(jù),并說明哪種轉(zhuǎn)換方式最佳
C.取一套數(shù)據(jù)的單一值的對數(shù)
D.控制數(shù)據(jù),從而使它們能落在規(guī)范上下限之內(nèi)
A.過程能力指過程滿足規(guī)范的能力
B.可以通過過程能力求得發(fā)生不良的概率
C.計(jì)算過程Cpk時(shí),需過程處于穩(wěn)定狀態(tài)
D.評估過程能力可以減少變差和成本
在芯片生產(chǎn)過程中,如果芯片上有一個(gè)瑕疵點(diǎn),則被認(rèn)為是一個(gè)缺陷,每個(gè)班次結(jié)束錢抽取10片芯片進(jìn)行檢驗(yàn)。下面是3月份前15個(gè)工作日每天總?cè)毕輸?shù)情況的記錄。請你決定用哪一種控制圖進(jìn)行繪制()
A.P控制圖
B.U控制圖
C.C控制圖
D.NP控制圖
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作業(yè)分析時(shí)提高動(dòng)作經(jīng)濟(jì)性的方法包括()
關(guān)于節(jié)拍時(shí)間的描述,正確的是()
在抽樣之前先將總體劃分若干層次,然后在每個(gè)層中簡單隨機(jī)抽樣,這種抽樣方法屬于()
為保持改善成果,常見的控制措施有()
精益管理中關(guān)于浪費(fèi)的說法,正確的是()
以下哪一項(xiàng)是對標(biāo)時(shí)要注意的()
下列激發(fā)創(chuàng)意的方法需要研究競爭對手才能找到證明有效的解決方案是()
在五臺機(jī)器中,按每臺機(jī)器產(chǎn)品的比例來抽樣,這種抽樣稱為()
下列關(guān)于改善后試運(yùn)行描述,正確的是()
標(biāo)準(zhǔn)作業(yè)是采用最佳的(),并最好地利用人、機(jī)器、工具和材料去完成工作,然后發(fā)展標(biāo)準(zhǔn)工作流程讓所有人遵守。