問答題簡(jiǎn)述X光電子能譜分析的基本原理。
您可能感興趣的試卷
最新試題
晶體的X射線衍射方向反映了晶胞的（）。
題型：多項(xiàng)選擇題
在電子探針中，測(cè)定X射線特征能量的譜儀為能量分散譜儀，簡(jiǎn)寫為（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
差熱分析中，若試樣沒有熱效應(yīng)時(shí)，記錄儀所記錄的ΔT曲線，為水平直線，稱為（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
1887年，Hertz建立了XPS技術(shù)的理論模型。
題型：判斷題
拉曼光譜分析儀在使用過程中，正確的實(shí)驗(yàn)操作有（）。
題型：多項(xiàng)選擇題
（）需要試樣與參比物之間溫度始終保持相同。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
電子探針和X射線衍射儀一樣，都可以直接確定材料中所包含的物相。
題型：判斷題
電子束與固體樣品作用時(shí)，會(huì)產(chǎn)生背散射電子。背反射電子的產(chǎn)額隨樣品（）的增加而增多。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
熱分析技術(shù)中，試樣用量越多，熱效應(yīng)大，內(nèi)部傳熱慢，溫度梯度大，導(dǎo)致峰形擴(kuò)大，峰頂溫度滯后，容易使相鄰峰重疊，降低分辨率。
題型：判斷題
熱分析中對(duì)樣品的重量沒有要求，只要樣品尺寸能放進(jìn)坩堝內(nèi)，就可以獲得良好的測(cè)試結(jié)果。
題型：判斷題