A.探測(cè)近表面缺陷
B.精確測(cè)定缺陷長(zhǎng)度
C.精確測(cè)定缺陷高度
D.用于表面缺陷檢測(cè)
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A. 鋼
B. 鋁
C. 銅
D. 非金屬
A.近場(chǎng)干擾
B.衰減
C.盲區(qū)
D.折射
A. 機(jī)電耦合系數(shù)K較大,以便獲得較高的轉(zhuǎn)換效率,壓電電壓常數(shù)g33 和壓電應(yīng)變常數(shù)d33較大
B. 機(jī)械品質(zhì)因子θm 較小,以便獲得較高分辨力和較小的盲區(qū)
C. 頻率常數(shù)Nt較大, 介電常數(shù)ε較小,以便獲得較高的頻率
D. 以上都是
A. 對(duì)接焊縫
B. 無(wú)縫鋼管
C. 鍛件和板材
D. 以上都是
A. 晶片
B. 阻尼塊
C. 保護(hù)膜
D. 隔聲層
最新試題
用CSK-IA 試塊測(cè)定斜探頭和儀器的分辨力,現(xiàn)測(cè)得臺(tái)階孔Ф50、Ф44 反射波等高時(shí)波峰高h(yuǎn)1=80% ,h2=25% ,求分辨力為多少?
用2.5P20Z探頭從外圓周面檢測(cè)外徑D=1000mm ,內(nèi)孔d = 600mm的鍛件,CL=5900m/s 。如何利用內(nèi)孔回波校準(zhǔn)200/Ф2靈敏度?
用2.5P20Z探頭檢測(cè)厚400mm的鋼鍛件,鋼中CL=5900m/s , 衰減系數(shù)α2= 0.01dB/mm , (1)如用試塊(衰減可忽略)上的深200mm ,Ф4mm的平底孔校準(zhǔn)400mm處檢測(cè)靈敏度(400/Ф2),兩者的波高差為多少? (2)如果用厚度為200mm的試塊(鍛件與試塊衰減系數(shù)相同,耦合差為5dB)底波調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度(400/Ф2),兩者反射波高差為多少?
用2.5P14Z直探頭檢測(cè)外徑1100mm,壁厚200mm筒形鋼鍛件 CL= 5900m/s 。 在內(nèi)壁作徑向檢測(cè)時(shí), 如何用外壁曲面回波調(diào)節(jié)Ф=2mm檢測(cè)靈敏度?
用2.5P20Z直探頭檢測(cè)厚400mm的鋼鍛件(CL=5900m/s ) ,檢測(cè)靈敏度校準(zhǔn)(400/Ф2)后進(jìn)行檢測(cè),發(fā)現(xiàn)在250mm處有一缺陷,缺陷波幅比基準(zhǔn)波幅高30dB,求此缺陷當(dāng)量?
用K2探頭檢測(cè)板厚分別為30mm 、65mm的鋼板對(duì)接焊縫,試問(wèn)按照J(rèn)B/T4730.3-2005《承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)》 B級(jí)標(biāo)準(zhǔn)焊縫兩側(cè)的修磨寬度各為多少?
用2.5MHz、Φ20mm直探頭探測(cè)厚為200mm的餅形鍛件,已知底波B1=80%,B2=35%,若不計(jì)底面反射損失,求該鍛件的材質(zhì)衰減系數(shù)為多少?
用2.5P20Z直探頭檢測(cè)厚350mm的鋼鍛件(CL=5900m/s ) ,如何用工件底波校準(zhǔn)檢測(cè)靈敏度(350/ф2)?
用2.5P14Z探頭探測(cè)某鍛件,發(fā)現(xiàn)在100mm深處有一個(gè)Φ6當(dāng)量平底孔缺陷,根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)評(píng)幾級(jí)?
用2.5P20Z直探頭檢驗(yàn)厚度380mm的鋼鍛件(CL=5900 m/s),材質(zhì)衰減系數(shù)α=0.01 dB/mm。檢測(cè)中在130mm深發(fā)現(xiàn)一缺陷,其波幅較底波低7dB,求此缺陷當(dāng)量大小?