A. 缺陷回波波高隨粗糙度增大而下降
B. 無影響
C. 缺陷回波波高隨粗糙度增大而增大
D. 以上都對
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A.小于實際尺寸
B.接近聲束寬度
C.稍大于實際尺寸
D.等于晶片尺寸
A.缺陷反射面大小
B.缺陷性質(zhì)
C.缺陷取向
D.以上全部
A. K 值是不穩(wěn)定的數(shù)據(jù)
B. K 值隨電壓的變化而變化
C. K 值常因磨損而發(fā)生變化
D.以上都對
A.探頭磨損會使入射點發(fā)生變化
B. 探頭磨損可能導(dǎo)致探頭K值的增大或減小
C. 探頭磨損可能導(dǎo)致儀器的水平線性的變化
D. 探頭磨損可能導(dǎo)致掃描速度的變化
A.儀器和探頭
B.操作人員的影響
C.工件的影響
D.耦合劑的影響
最新試題
用2.5P14Z探頭探測某鍛件,發(fā)現(xiàn)在100mm深處有一個Φ6當(dāng)量平底孔缺陷,根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)評幾級?
用5P10×12K2.5探頭,檢測板厚T = 20 mm 的鋼對接焊接接頭,掃描時基線按水平1:1調(diào)節(jié),檢測時,水平刻度40和70mm處各發(fā)現(xiàn)缺陷波一個,試分別求這兩個缺陷的深度?
用斜探頭檢測板厚T = 20mm ,上、下焊縫寬度為30mm的對接接頭,探頭前沿長度為 20mm ,為保證聲束能掃查到整個焊接接頭截面,試確定用一、二次波檢測時探頭的K值?
對厚度60mm的鋼板進行水浸檢測,已知水層厚度H = 30mm ,計算這是幾次重合法?
用2.5P20Z探頭檢測厚400mm的鋼鍛件,鋼中CL=5900m/s , 衰減系數(shù)α2= 0.01dB/mm , (1)如用試塊(衰減可忽略)上的深200mm ,Ф4mm的平底孔校準(zhǔn)400mm處檢測靈敏度(400/Ф2),兩者的波高差為多少? (2)如果用厚度為200mm的試塊(鍛件與試塊衰減系數(shù)相同,耦合差為5dB)底波調(diào)節(jié)檢測靈敏度(400/Ф2),兩者反射波高差為多少?
用2.5MHz、Φ20mm直探頭探測厚為200mm的餅形鍛件,已知底波B1=80%,B2=35%,若不計底面反射損失,求該鍛件的材質(zhì)衰減系數(shù)為多少?
模擬式超聲波探傷儀用K1.0斜探頭,對準(zhǔn)CSK-ⅠA試塊R50和R100圓弧,顯示屏上R50和R100圓弧回波分別對準(zhǔn)刻度35.4和70.8 。求按橫波深度調(diào)節(jié)其掃描速度為多少?
用2.5P14Z探頭檢測某鍛件,發(fā)現(xiàn)在50mm深處有一缺陷引起的底波降低量為18dB,另一處密集區(qū)缺陷面積為 100cm2,檢測總面積為0.5米×0.5米,同時發(fā)現(xiàn)一單個缺陷,當(dāng)量為Φ4+10dB,試根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)評定此鍛件等級。
用2.5P20Z直探頭檢驗厚度380mm的鋼鍛件(CL=5900 m/s),材質(zhì)衰減系數(shù)α=0.01 dB/mm。檢測中在130mm深發(fā)現(xiàn)一缺陷,其波幅較底波低7dB,求此缺陷當(dāng)量大???
ф50×6mm無縫鋼管水浸聚焦超聲檢測,聲透鏡半徑r′= 40mm ,水中C2 = 1480m/s ,聲透鏡中C1=2730m/s , 求偏心距和水層厚度各為多少?