您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.30dB
B.35dB
C.40dB
D.45dB
A.3mm
B.6mm
C.9mm
D.12mm
A.水層厚度
B.焦距和聚焦探頭的曲率半徑
C.掃查速度和重復(fù)頻率
D.探頭旋轉(zhuǎn)式設(shè)備的電耦合信號(hào)傳輸速度
A.橫向缺陷的檢測(cè)采用60°尖角槽人工缺陷
B.探頭與工件接觸面應(yīng)吻合良好
C.掃差靈敏度在基準(zhǔn)靈敏度的基礎(chǔ)上提高9dB
D.在檢測(cè)縱向缺陷時(shí)，探頭沿螺旋線進(jìn)行掃查
A.折射角采用棱角反射法測(cè)定
B.入射點(diǎn)測(cè)定采用直徑為1.5mm×20mm的橫孔
C.利用中心發(fā)現(xiàn)儀測(cè)定入射角
D.利用曲面對(duì)比試塊測(cè)定入射點(diǎn)和折射角
最新試題
板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)（），其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為（）。
用橫波斜探頭檢測(cè)，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí)，（）不是影響缺陷定位的主要因素。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來(lái)表征。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度，即（）。
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng)，超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為（）。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí)，下面敘述中（）是錯(cuò)誤的。