A.折射角采用棱角反射法測定
B.入射點測定采用直徑為1.5mm×20mm的橫孔
C.利用中心發(fā)現(xiàn)儀測定入射角
D.利用曲面對比試塊測定入射點和折射角
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.一般采用液浸法耦合
B.可以在監(jiān)視器上進行A、B、C型顯示
C.缺陷利用網(wǎng)絡(luò)標(biāo)記顯示二值化圖像
D.缺陷評定目前不能執(zhí)行JB/T4730.3—2005標(biāo)準(zhǔn)
A.兩介質(zhì)聲特性阻抗接近,界面回波小,容易檢出
B.兩介質(zhì)聲特性阻抗接近,界面回波大,不易檢出
C.兩介質(zhì)聲特性阻抗差別大,界面回波大,不易檢出查
D.兩介質(zhì)聲特性阻抗差別大,界面回波小,容易檢查
A.采用與被檢工件材質(zhì)相同的ϕ5mm平底孔試塊調(diào)節(jié)靈敏度
B.當(dāng)?shù)酌娴谝淮畏瓷洳úǜ叩陀陲@示屏滿刻度的5%時即作為缺陷處理
C.缺陷第一次反射波波高大于或等于顯示屏滿刻度的50%時即作為缺陷處理
D.缺陷第一次反射波波高與底面第一次反射波波高之比大于或等于100%時即作為缺陷處理
A.縱波斜探頭
B.橫波斜探頭
C.表面波探頭
D.縱波直探頭
A.平面性缺陷波高與缺陷面積成正比
B.球形缺陷反射波高與缺陷直徑成正比
C.缺陷傾斜度變小,缺陷檢出率提高
D.夾雜類缺陷可能會因產(chǎn)生透射聲波而無法檢測到
最新試題
利用底波計算法進行靈敏度校準(zhǔn)時,適用的工件厚度為()。
()是影響缺陷定量的因素。
()可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。
底波計算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進行靈敏度校準(zhǔn)。
調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對缺陷進行()。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
當(dāng)超聲波到達工件的臺階、螺紋等輪廓時將引起反射,這種波是()。
利用底波計算法校準(zhǔn)靈敏度時,下面敘述中()是錯誤的。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯誤的是()。
超聲檢測對缺陷定位時,()不是影響缺陷定位的主要因素。