A.低頻探頭
B.高頻探頭
C.窄頻帶探頭
D.寬頻帶探頭
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A.門限設(shè)置
B.頻帶設(shè)置
C.時差設(shè)置
D.以上都可以
A.平均信號電平
B.平均頻率
C.時差
D.持續(xù)時間
A.5分鐘
B.10分鐘
C.15分鐘
D.20分鐘
A.加載檢測前
B.加載檢測中
C.加在檢測后
D.可以不測
A.突發(fā)式
B.連續(xù)式
C.A和B
D.以上都不對
最新試題
像質(zhì)計放置次數(shù)一般應(yīng)與透照次數(shù)相同，相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時可適當減少放置次數(shù)．但不少于透照次數(shù)的三分之一。
檢測申請時工序狀態(tài)應(yīng)清楚、工序質(zhì)量應(yīng)符合工序質(zhì)量要求，檢驗蓋章確認，確保焊接、檢驗、檢測等全過程具有可追溯性。
底片圖像質(zhì)量參數(shù)中的顆粒度與膠片的粒度是同一概念。
對于厚度變化較大的變截面工件透照，只要底片黑度符合GJB1187A的要求時，就可采用多膠片技術(shù)。
對于直徑Φ50mm導(dǎo)管環(huán)焊縫，采用的透照方式為（）。
下面給出的射線檢測基本原理中，正確的是（）。
廢舊藥液應(yīng)采用專用容器收集，定期送指定的機構(gòu)處理。
下面列出的確定透照布置應(yīng)考慮的基本內(nèi)容中，錯誤的是（）。
一次完整的兩面多層補焊，當正面打底層質(zhì)量進行過一次X射線檢測，若反面還需打底，則無需X射線檢測。
送檢產(chǎn)品工序狀態(tài)及表面質(zhì)量應(yīng)符合工藝規(guī)程或工藝處理意見的要求，經(jīng)表面檢驗合格，申請單無需檢驗蓋章確認。