A.儀器合格證書
B.直通波的到達(dá)時(shí)間
C.直通波和底面波相位變化
D.B和C都正確
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A.12dB
B.18dB
C.24dB
D.30dB
A.設(shè)置的增益過(guò)低
B.設(shè)置的增益過(guò)高
C.A掃描參數(shù)設(shè)置出錯(cuò)
D.PCS計(jì)算出錯(cuò)
A.校準(zhǔn)試塊厚度和材質(zhì)應(yīng)與被檢測(cè)工件相同或相近
B.窄槽應(yīng)在開試塊的1/4厚度處和3/4厚度處
C.應(yīng)采集在上表面開口的窄槽的下端點(diǎn)信號(hào)進(jìn)行校準(zhǔn)
D.以上都對(duì)
A.69mm
B.138mm
C.92.35mm
D.112mm
A.選擇較大的PCS有利于提高分辨力
B.選擇較大的PCS有利于提高信噪比
C.選擇較大的PCS有利于獲得較大的覆蓋范圍
D.選擇較大的PCS有利于減小盲區(qū)
最新試題
二次波檢測(cè)是一種特殊的檢測(cè)工藝,以下關(guān)于二次波檢測(cè)的做敘述,哪一條是錯(cuò)誤的()
調(diào)節(jié)掃描速度時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的水平刻度值。
底片清晰度與增感屏顆粒度的關(guān)系是()
對(duì)于鉬靶X射線管,在管電壓低于()千伏時(shí)是不會(huì)產(chǎn)生特征X射線的。
光電效應(yīng)發(fā)生的機(jī)率隨什么變化()
以下哪一種措施不能減小上表面盲區(qū)的影響()
對(duì)軸類鋼制鍛件,用2.5P14的直探頭,在圓周面上用底波作基準(zhǔn)反射而進(jìn)行靈敏度調(diào)整時(shí),該軸鍛件的直徑至少應(yīng)大于()
下列對(duì)耦合劑應(yīng)該具有的特點(diǎn)的描述,不正確的一項(xiàng)是()
原子是元素的具體存在,是體現(xiàn)元素性質(zhì)的最小微粒。
底片清晰度與膠片顆粒度的關(guān)系是()