A.工件中有小而密集的缺陷
B.工件中有局部晶粒粗大區(qū)域
C.工件中有疏松缺陷
D.以上都有可能
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.反射率高,波幅高,探頭左右移動時(shí)波形穩(wěn)定
B.從焊縫兩側(cè)檢測時(shí),反射波高大致相當(dāng)
C.當(dāng)探頭做定點(diǎn)轉(zhuǎn)動時(shí),波幅高度下降速度較快
D.以上全部
A.反射率高,波幅高,探頭左右移動時(shí)波形穩(wěn)定
B.從焊縫兩側(cè)檢測時(shí),反射波高大致相當(dāng)
C.當(dāng)探頭做定點(diǎn)轉(zhuǎn)動時(shí),波幅高度下降速度較快
D.以上全部
A.被檢測件材質(zhì)和幾何外形
B.檢測人員的技術(shù)水平
C.被檢測件中的缺陷位置和方向
D.以上都是
A.缺陷位置的縱坐標(biāo)和橫坐標(biāo)
B.缺陷深度
C.缺陷的水平距離
D.探頭與焊縫間的距離
A.材料晶粒粗大
B.波速不均勻
C.不適用頻率低的探頭
D.聲特性阻抗變化大
最新試題
用橫波斜探頭檢測,找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度余量()。
底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
板波檢測可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射,這種波是()。
縱波直探頭徑向檢測實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。
()可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
探頭延檢測面水平移動,超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為()。
()可以對管路、管道進(jìn)行長距離檢測。