A.調(diào)整設(shè)備和檢測(cè)
B.記錄和分類檢測(cè)結(jié)果及報(bào)告檢測(cè)結(jié)果
C.質(zhì)量評(píng)級(jí)
D.A和B
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A.6dB
B.－6dB
C.12dB
D.－12dB
A.聲程定位法
B.水平定位法
C.深度定位法
D.以上都是
A.熱處理后進(jìn)行
B.鍛造后進(jìn)行
C.在孔、槽、臺(tái)階加工前進(jìn)行
D.A和C
A.折疊
B.白點(diǎn)
C.裂紋
D.以上都有
A.3.0～2.0
B.2.5～2.0
C.2.0～1.0
D.以上都不是
最新試題
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí)，在第一次底波之后，還有2個(gè)特定位置的反射波，這種波是（）。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè)，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指（）。
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。
測(cè)長法是根據(jù)測(cè)長缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長度稱為缺陷的（）。
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí)，需要進(jìn)行傳輸修正。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低，（）。
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長工件上時(shí)，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。