A.50mm
B.100mm
C.200mm
D.400mm
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A.6dB
B.9dB
C.10dB
D.3dB
A.靈敏度試塊
B.對(duì)比試塊
C.標(biāo)準(zhǔn)試塊
D.自然缺陷試塊
A.前沿距離
B.Ｋ值
C.主聲束偏離、靈敏度余量和分辨率等
D.以上都是
A.每周
B.每個(gè)月
C.三個(gè)月
D.半年
A.100mm/s
B.150mm/s
C.200mm/s
D.50mm/s
最新試題
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為（）。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí)，適用的工件厚度為（）。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低，（）。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí)，下面敘述中（）是錯(cuò)誤的。
（）是影響缺陷定量的因素。
單探頭法容易檢出（）。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來(lái)確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的（）。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來(lái)表征。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn)，說法錯(cuò)誤的是（）。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。