單項(xiàng)選擇題如果探測面毛糙，應(yīng)該采用（）。

A、不太高頻率的探頭
B、較高頻率的探頭
C、硬保護(hù)膜探頭
D、大晶片探頭


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1.單項(xiàng)選擇題用單探頭法，要發(fā)現(xiàn)與聲束取向不良的缺陷，應(yīng)采用的探頭頻率（）。

A、愈高愈好
B、愈低愈好
C、不太高
D、較尋常時(shí)取高值

2.單項(xiàng)選擇題用單探頭法探測二個(gè)表面平整、但與入射聲束取向不良的缺陷（二缺陷的取向相同且無工件界面的影響），它們的當(dāng)量（）。

A、面積大的，當(dāng)量也一定大
B、面積大的，當(dāng)量不一定比面積小的大
C、面積大的，當(dāng)量反而比面積小的小
D、相等

3.單項(xiàng)選擇題探測厚焊縫中垂直于表面的缺陷最適用的方法是（）。

A、聚焦探頭
B、直探頭
C、斜探頭
D、串列雙斜探頭

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