填空題介質的散射衰減與()、()和()有關。因此探傷晶粒較粗大的工件時,常常選用較低的()。
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缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。
題型:單項選擇題
()可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
題型:單項選擇題
在對缺陷進行定量前,必須先調節(jié)()。
題型:單項選擇題
用折射角β的斜探頭進行檢測,儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
題型:單項選擇題
靈敏度采用試塊調節(jié)法,下面說法錯誤的是()。
題型:單項選擇題
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低,()。
題型:單項選擇題
儀器水平線性影響()。
題型:單項選擇題
移動探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動探頭,缺陷回波高度降低一半時,探頭中心軸線所對應的位置即為指示長度的端點,兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。
題型:單項選擇題
利用底波計算法校準靈敏度時,下面敘述中()是錯誤的。
題型:單項選擇題
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小,操作方便,適用于()的工件。
題型:單項選擇題