填空題在擴散之前在硅表面先沉積一層雜質(zhì),在整個過程中這層雜質(zhì)作為擴散的雜質(zhì)源,不再有新的雜質(zhì)補充,這種擴散方式稱為:()
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1.單項選擇題人們規(guī)定:()電壓為安全電壓.
A.36伏以下
B.50伏以下
C.24伏以下
2.單項選擇題單相3線插座接線有嚴格規(guī)定()
A.“左零”“右火”
B.“左火”“右零”
3.多項選擇題按蒸發(fā)源加熱方法的不同,真空蒸發(fā)工藝可分為:()蒸發(fā)、()蒸發(fā)、離子束蒸發(fā)等。
A.電阻加熱
B.電子束
C.蒸氣原子
4.單項選擇題將預先制好的掩膜直接和涂有光致抗蝕劑的晶片表面接觸,再用紫外光照射來進行曝光的方法,稱為()曝光。
A.接觸
B.接近式
C.投影
5.單項選擇題光刻工藝是利用感光膠感光后抗腐蝕的特性在半導體晶片表面的掩膜層上的工藝()
A.刻制圖形
B.繪制圖形
C.制作圖形
最新試題
拋光片的電學參數(shù)包括電阻率,載流子濃度,遷移率,直徑、厚度、主參考面等。()
題型:判斷題
液相外延的原理是飽和溶液隨著溫度的降低產(chǎn)生過飽和結(jié)晶。()
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晶體的特點是在各不同晶向上的物理性能、機械性能、化學性能都相同。()
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低溫淀積二氧化硅生長溫度低、制作方便,但膜不夠致密,耐潮性和抗離子沾污能力較差。()
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位錯就是由范性形變造成的,它可以使晶體內(nèi)的一原子或離子脫離規(guī)則的周期排列而位移一段距離,位移區(qū)與非位移區(qū)交界處必有原子的錯位,這樣產(chǎn)生線缺陷稱為位錯。()
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點缺陷,如空位、間隙原子、反位缺陷、替位缺陷,和由它們構(gòu)成的復合體。()
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設(shè)置的非破壞性鍵合拉力通常為最小鍵合強度的50%。()
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集成電容主要有哪幾種結(jié)構(gòu)?
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