單項(xiàng)選擇題組合雙晶直探頭的壓電晶片前裝有()

A.阻尼塊
B.匹配線圈
C.延遲塊
D.保護(hù)膜


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1.單項(xiàng)選擇題對(duì)于單晶斜探頭,在使用中經(jīng)常要校驗(yàn)的參數(shù)是()

A.入射點(diǎn)或探頭前沿
B.折射角
C.聲軸線偏移或偏斜
D.以上都是

2.單項(xiàng)選擇題軟保護(hù)膜探頭使用于()的工件表面。

A.光結(jié)表面
B.粗糙表面
C.A和B
D.視具體情況

3.單項(xiàng)選擇題超聲波探頭的頻率與壓電晶片厚度有關(guān),晶片越薄則()

A.頻率越低
B.頻率越高
C.頻率不變
D.以上都不對(duì)

4.單項(xiàng)選擇題目前工業(yè)常用的超聲波測(cè)厚儀利用的是()

A.連續(xù)波穿透法
B.脈沖波反射法
C.連續(xù)波共振法
D.剪切波諧振法

5.單項(xiàng)選擇題評(píng)價(jià)超聲波探傷儀在規(guī)定靈敏度下發(fā)現(xiàn)并顯示最小缺陷能力的指標(biāo)是()

A.分辨率
B.時(shí)基線性
C.垂直線性
D.動(dòng)態(tài)范圍

最新試題

當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

()可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長(zhǎng)距離檢測(cè)。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

實(shí)際檢測(cè)中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

單探頭法容易檢出()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

用橫波斜探頭檢測(cè),找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低,()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題