填空題切制抗墳試件法測試設備應選擇適宜噸位的長柱壓力試驗機，預估抗壓試件的破壞荷載值應為壓力試驗機額定壓力的（）。
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雜質半導體中的載流子輸運過程的散射機構中，當溫度升高時，電離雜質散射的概率和晶格振動聲子的散射概率的變化分別是（）
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對于同時存在一種施主雜質和一種受主雜質的均勻摻雜的非簡并半導體，在溫度足夠高、ni>>/ND-NA/時，半導體具有（）半導體的導電特性。
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那個不是影響直拉單晶硅的電阻率均勻性的因素（）
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