A.生產(chǎn)過程的均值偏離目標太遠,且過程的標準差太大。
B.生產(chǎn)過程的均值偏離目標太遠,過程的標準差尚可。
C.生產(chǎn)過程的均值偏離目標尚可,但過程的標準差太大。
D.對于生產(chǎn)過程的均值偏離目標情況及過程的標準差都不能作出判斷。
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A:根據(jù)Cp不能估計缺陷率,根據(jù)Cpk才能估計缺陷率
B:根據(jù)Cp和Cpk都能估計缺陷率
C:缺陷率與Cp和Cpk無關(guān)
D:以上說法都不對
A.本測量系統(tǒng)從精確度/過程波動比(R&R%)來說是完全合格的
B.本測量系統(tǒng)從精確度/過程波動比(R&R%)來說是勉強合格的
C.本測量系統(tǒng)從精確度/過程波動比(R&R%)來說是不合格的
D.上述數(shù)據(jù)不能得到精確度/過程波動比(R&R%),從而無法判斷
A.本測量系統(tǒng)從%P/T角度來說是完全合格的
B.本測量系統(tǒng)從%P/T角度來說是勉強合格的
C.本測量系統(tǒng)從%P/T角度來說是不合格的
D.上述數(shù)據(jù)不能得到%P/T值,從而無法判斷
A.被測對象不變,測量人員不變,各次獨立重復(fù)測量結(jié)果之間的差異;
B.被測對象不變,在不同初始狀態(tài)的設(shè)定下,各次測量結(jié)果之間的差異;
C.同一測量人員,對各個被測對象各測一次,測量結(jié)果之間的差異;
D.以上都不是。
A.臺秤有較大偏倚(Bias),需要校準
B.臺秤有較大的重復(fù)性誤差,已不能再使用,需要換用精度更高的天平。
C.臺秤存在較大的再現(xiàn)性誤差,需要重復(fù)測量來減小再現(xiàn)性誤差。
D.測量系統(tǒng)沒有問題,臺秤可以使用。
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假設(shè)檢驗中,如果P<α(a通常=0.05),則以下結(jié)論正確的是:()
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