A.性能標(biāo)準(zhǔn)
B.調(diào)試標(biāo)準(zhǔn)
C.驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)
D.自然標(biāo)準(zhǔn)
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.不銹鋼和低碳鋼
B.銅和膠木
C.鋁和鎳
D.以上三類均可以
A.末端效應(yīng)
B.速度效應(yīng)
C.渦流熱效應(yīng)
D.提離效應(yīng)
A.消除缺陷信號
B.補(bǔ)償儀器溫度漂移
C.抵消探頭零電勢
D.減小激勵信號相位變化
A.產(chǎn)生靈敏度降低
B.產(chǎn)生異狀的哨叫
C.產(chǎn)生間隙振盈
D.產(chǎn)生周期性噪聲
A.相關(guān)技術(shù)
B.相移技術(shù)
C.相位迭加技術(shù)
D.相位分析技術(shù)
最新試題
產(chǎn)品焊接接頭最終質(zhì)量經(jīng)X射線檢驗(yàn)合格后不得再實(shí)施影響接頭性能的加工（如校形、修刮、重熔等），否則應(yīng)重新申請進(jìn)行X射線檢測。
對含有內(nèi)穿過式線圈的薄壁管，影響其阻抗變化的因素有（）
探傷人員在透視間內(nèi)發(fā)現(xiàn)輻射正在進(jìn)行應(yīng)立即（）。
下面給出的射線檢測基本原理中，正確的是（）。
對于厚度變化較大的變截面工件透照，只要底片黑度符合GJB1187A的要求時(shí)，就可采用多膠片技術(shù)。
焊接工藝處理超標(biāo)缺陷必須閱片的主要目的是（）。
一次完整的兩面多層補(bǔ)焊，當(dāng)正面打底層質(zhì)量進(jìn)行過一次X射線檢測，若反面還需打底，則無需X射線檢測。
為了提高射線照相對比度，可以采用高電壓、短時(shí)間、大管電流的方式曝光。
觀察底片時(shí)，為能識別缺陷圖像，缺陷圖像對比度與圖像噪聲之比應(yīng)不小于識別閾值。
廢舊藥液應(yīng)采用專用容器收集，定期送指定的機(jī)構(gòu)處理。