單項選擇題依據(jù)MH/T-3002標準要求,儀器的垂直線性上限應()
A.不小于滿刻度的95%
B.不小于滿刻度的10%
C.不小于滿刻度的85%
D.達到滿刻度
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1.單項選擇題依據(jù)MH/T-3002標準要求,儀器的垂直線性下限應:()
A.不小于滿刻度的95%
B.不小于滿刻度的10%
C.不大于滿刻度的95%
D.不大于滿刻度的10%
2.單項選擇題為了能夠檢出凸耳兩側(cè)表面的小缺陷,應使探頭:()
A.盡可能靠向凸耳兩側(cè)
B.聲束軸線與凸耳軸線垂直
C.聲束軸線向凸耳兩側(cè)傾斜一定角度
D.以上都是
3.單項選擇題利用回波相位可以判斷零件是否存在:()
A.裂紋
B.鍍層
C.分層
D.腐蝕
4.單項選擇題利用缺陷回波相位可以大致判斷出:()
A.缺陷的性質(zhì)
B.缺陷的形狀
C.缺陷的尺寸
D.缺陷的位置
5.單項選擇題凸耳類曲面探傷時,為保證橫波能發(fā)現(xiàn)內(nèi)壁裂紋的條件是:()
A.壁厚與外徑之比小于0.20
B.壁厚與外徑之比大于0.20
C.壁厚與內(nèi)徑之比小于0.20
D.壁厚與內(nèi)徑之比大于0.20
最新試題
()是影響缺陷定量的因素。
題型:單項選擇題
縱波直探頭徑向檢測實心圓柱時,在第一次底波之后,還有2個特定位置的反射波,這種波是()。
題型:單項選擇題
底波計算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進行靈敏度校準。
題型:單項選擇題
儀器水平線性影響()。
題型:單項選擇題
移動探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動探頭,缺陷回波高度降低一半時,探頭中心軸線所對應的位置即為指示長度的端點,兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。
題型:單項選擇題
單探頭法容易檢出()。
題型:單項選擇題
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的()。
題型:單項選擇題
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低,()。
題型:單項選擇題
超聲波儀時基線的水平刻度與實際聲程成正比的程度,即()。
題型:單項選擇題
在對缺陷進行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
題型:單項選擇題